Saltar para:
Logótipo
Você está em: Início » Publicações » Visualização » High-Level Test Specification and Planning for Mixed-Signal Boards with Boundary-Scan

High-Level Test Specification and Planning for Mixed-Signal Boards with Boundary-Scan

Título
High-Level Test Specification and Planning for Mixed-Signal Boards with Boundary-Scan
Tipo
Artigo em Livro de Atas de Conferência Internacional
Ano
1997
Autores
Ana Leão
(Autor)
Outra
A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. Sem AUTHENTICUS Sem ORCID
José Machado da Silva
(Autor)
FEUP
José Silva Matos
(Autor)
FEUP
Ver página pessoal Sem permissões para visualizar e-mail institucional Pesquisar Publicações do Participante Ver página do Authenticus Sem ORCID
Ata de Conferência Internacional
Páginas: 33-37
DCIS'97 - XII Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
Escuela Superior de Ingenieros, Universidad de Sevilla, Sevilha, Espanha
Outras Informações
Idioma: Português
Tipo (Avaliação Docente): Científica
Nº de páginas: 5
Documentos
Não foi encontrado nenhum documento associado à publicação.
Publicações Relacionadas

Dos mesmos autores

Test of mixed-signal boards using test-support ICs. Part I - Hardware (1995)
Artigo em Revista Científica Internacional
José Silva Matos; João Canas Ferreira; Ana Leão; José Machado da Silva
Teste de Circuitos Electrónicos Analógicos a Partir de um Barramento de Teste Digital Normalizado (1994)
Artigo em Livro de Atas de Conferência Nacional
Ana Leão; João Canas Ferreira; José Machado da Silva; José Silva Matos
Recomendar Página Voltar ao Topo
Copyright 1996-2024 © Faculdade de Medicina da Universidade do Porto  I Termos e Condições  I Acessibilidade  I Índice A-Z  I Livro de Visitas
Página gerada em: 2024-08-26 às 07:26:56
Política de Utilização Aceitável | Política de Proteção de Dados Pessoais | Denúncias | Política de Captação e Difusão da Imagem Pessoal em Suporte Digital