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Electrónica 2

Código: EEC0027     Sigla: ELEC2

Áreas Científicas
Classificação Área Científica
OFICIAL Electrónica e Sistemas Digitais

Ocorrência: 2020/2021 - 1S Ícone do Moodle

Ativa? Sim
Página Web: https://moodle.fe.up.pt
Unidade Responsável: Departamento de Engenharia Eletrotécnica e de Computadores
Curso/CE Responsável: Mestrado Integrado em Engenharia Electrotécnica e de Computadores

Ciclos de Estudo/Cursos

Sigla Nº de Estudantes Plano de Estudos Anos Curriculares Créditos UCN Créditos ECTS Horas de Contacto Horas Totais
MIEEC 70 Plano de estudos oficial 3 - 8 70 216

Língua de trabalho

Português

Objetivos

Um primeiro objectivo da disciplina, na continuação de Electrónica I em que um vasto leque de matérias foi coberto de modo relativamente superficial, é a análise e projeto, de modo aprofundado, de amplificadores integrados multi-andar de banda larga, quer com tecnologia bipolar quer com tecnologia CMOS. São tratadas em detalhe, nomeadamente, as questões do funcionamento na frequência, a retroação suas topologias básicas características e problemas, bem como a análise das questões de estabilidade e compensação. Segue-se o estudo de algumas topologias típicas e análise das suas caraterísticas, quer com transístores BJT, quer CMOS quer ainda híbridos, BiCMOS.


Na sequência deste estudo e passando a uma introdução à electrónica dos circuitos digitais, os alunos estudam o comportamento dos dispositivos eletrónicos quando comutam entre o estado de corte e a condução forte, e vice-versa e uma breve revisão das diversas famílias lógicas, quer das atualmente existentes quer as que foram sendo introduzidas ao longo dos anos, para uma melhor percepção das razões das modificações introduzidas.

Resultados de aprendizagem e competências

Esta unidade curricular vem no seguimento de electrónica 1, completando a sequência de conhecimentos fundamentais no domínio de circuitos eletrónicos de sinal. Consequentemente, tem por objetivo dotar os estudantes de conceitos e técnicas de análise de amplificadores diferenciais e multiandar, o seu comportamento em frequência e análise com retroação. Pretende ainda dotar os estudantes de capacidades de projeto e dimensionamento desses mesmo circuitos, nomeadamente pela introdução desta componente nos trabalhos laboratoriais.

Finalmente, para completar a formação base em eletrónica, faz-se uma primeira abordagem ao comportamento dos componentes e circuitos básicos da eletrónica dos sistemas digitais.

Modo de trabalho

Presencial

Programa


  1. Resposta na frequência dos dispositivos e circuitos eletrónicos



  • Introdução ao estudo na frequência

  • O amplificador na zona de altas frequências

  • O MOSFET às altas frequência

  • Capacidades internas do MOSFET associadas à porta do MOSFET

  • Capacidades de junção

  • Modelo para sinal às altas frequências

  • Comportamento das várias configurações básicas, com MOS, às altas frequências

  • Comportamento do circuito em fonte comum, às altas frequências

  • Método das constantes de tempo para as altas frequências

  • Comportamento da configuração em fonte comum com resistência de fonte

  • Comportamento às altas frequências da configuração em dreno comum

  • Comportamento às altas frequências da configuração em porta comum

  • Exemplos numéricos

  • Algumas notas complementares

  • O BJT às altas frequências

  • Capacidades do transístor bipolar

  • Modelo π para as altas frequências

  • Parâmetros do BJT às altas frequências

  • Comportamento das várias configurações básicas, com BJT, às altas frequência

  • Exemplos numéricos de circuitos com BJT

  • Exemplos numéricos com configurações com mais do que um transístor

  • Comportamento dos circuitos às BF, tendo em conta as capacidades de acoplamento

  • O amplificador na região das baixas frequências

  • Estudo da configuração em fonte comum, às baixas frequências.

  • Estudo da configuração em emissor comum, às baixas frequências

  • Exemplo numérico para análise às baixas frequências



  1. Amplificadores multiandar e blocos básicos constitutivos



  • Motivação

  • Célula básica de amplificação de tensão

  • Resistência de entrada

  • Ganho de tensão

  • Resposta em frequência

  • Resistência de saída

  • Entrada diferencial

  • Exemplos numéricos

  • Blocos básicos para melhoria das caraterísticas dos amplificadores

  • Configuração cascode

  • Espelho de corrente

  • Darlington

  • Par diferencial

  • Utilização de fontes de corrente como carga ativa

  • Par diferencial com espelho de corrente como carga ativa



  1. Retroação



  • Introdução

  • Propriedades gerais da retroação

  • Sensibilidade às variações do ganho

  • Ruído

  • Distorção

  • Efeito da retroação nas resistências de entrada e de saída

  • Efeito sobre a resistência de entrada

  • Efeito sobre a resistência de saída

  • Conclusão

  • Malha de retroação com parâmetros reais

  • Retroação com amostragem de tensão

  • Retroação com amostragem de corrente

  • Exemplos numéricos de circuitos discretos com retroação

  • Amostragem de tensão e mistura em série: retroação do 2º coletor para o 1º emissor

  • Amostragem de tensão e mistura em paralelo

  • Amostragem de tensão e mistura em série: seguidor de emissor

  • Efeito da retroação na resposta em frequência

  • Efeito da retroação sobre um amplificador com dois polos

  • Efeito da retroação sobre um amplificador com mais de dois polos

  • Estabilidade dos sistemas com retroação

  • Compensação de amplificadores com retroação

  • Análise do circuito da Fig. 11.30

  • Compensação por polo dominante

  • Compensação por cancelamento de um polo por um zero

  • Compensação por afastamento dos polos

  • Compensação com modificação da posição do zero

  • Conclusão



  1. Circuitos Amplificadores Operacionais



  • AmpOp MOS com dois andares

  • AmpOp MOS com cascode complementar

  • O AmpOp 741

  • Análise para pequenos sinais

  • Resposta na frequência e “slew rate”

  • Desenho moderno de AmpOp com BJT



  1. Tópicos Selecionados de Eletrónica dos Sistemas Digitais



  • Introdução

  • O díodo de junção em comutação

  • O díodo Schottky

  • O transístor bipolar em comutação

  • O modelo Ebers-Moll

  • Modos de funcionamento do transístor bipolar

  • O BJT em saturação. 

  • Comutação do transístor bipolar

  • Transístores Schottky

  • O transístor MOSFET em comutação

  • Breve resenha histórica sobre as famílias de CI digitais

  • Família DTL

  • Família TTL

  • A família ECL

  • A família nMOS

  • A família CMOS

Bibliografia Obrigatória

Sedra, adel S., Smith, Keneth C.; Microelectronic Circuits, 6th Ed., Oxford University Press, 2011. ISBN: 978-019-973851-9
Pedro Guedes de Oliveira & Dinis Santos; Apontamentos sobre eletrónica básica

Observações Bibliográficas

A utilização de edições anteriores do Sedra & Smith requer alguma adaptação de conteúdos (apenas um pouco), mas principalmente deverá tomar atenção à ordem dos assuntos que em várias situações surgem organizados de uma forma diferente.

Métodos de ensino e atividades de aprendizagem

Aulas Teóricas de exposição dos assuntos a tratar com exemplos práticos ilustrativos, intercaladas com aulas de demonstração de técnicas de análise e síntese de circuitos e resolução de problemas.

Aulas de Prática Laboratorial (em cada semana, 2h acompanhadas por um docente mais duas horas de trabalho autónomo) onde serão levados a cabo trabalhos de uma relativa complexidade quer na área dos amplificadores lineares (projecto—com base numa configuração fornecida—, análise teórica, simulação, montagem e teste prático).

Na aula . laboratorial acompanhada, a primeira hora é para ver a funcionar e tirar dúvidas sobre o trabalho do guião iniciado na aula de trabalho autónomo, a que se segue meia hora para responder a uma pergunta sobre esse trabalho e a meia hora final para apresentar e discutir o trabalho seguinte.

Software

MultiSIm

Palavras Chave

Ciências Tecnológicas > Engenharia > Engenharia electrónica
Ciências Tecnológicas > Engenharia > Engenharia electrotécnica

Tipo de avaliação

Avaliação distribuída com exame final

Componentes de Avaliação

Designação Peso (%)
Exame 50,00
Teste 20,00
Trabalho laboratorial 30,00
Total: 100,00

Obtenção de frequência

A nota final da disciplina é feita pela média pesada associada a:

1. Componente laboratorial (30%) - L 

  • Participação e desempenho nas aulas práticas laboratoriais (50%), resultados de uma pergunta feita ao grupo, em cada aula, sobre os trabalho realizado no trabalho autónomo e discutido na primeira hora da aula. 

  • Esta parcela da avaliação é obrigatória para todos os alunos, podendo o caso dos trabalhadores estudantes e outros alunos de regime especial ser objecto de análise específica;

  • Esta parcela da avaliação manter-se-á para os anos subsequentes e constará de uma pauta de frequência a ser afixada antes do período de exames, devendo os alunos que queiram voltar a frequentar os laboratórios solicitá-lo ao docente responsável pela disciplina. 

  • Esta parcela da avaliação terá, cada vez que o aluno se apresentar a exame final, o seu valor limitado superiormente à classificação desse exame mais 4 valores (em 20). 



2. Dois minitestes a efectuar durante o período de aulas teóricas, o primeiro entre a 5ª e a 6ª semana e o segundo entre a 9ª e a 10ª, com o peso de 10% cada um. - M 



3. Exame final com o peso entre 50% e 70%. - E

  • Para os alunos ordinários em primeira inscrição, o peso do exame será, em geral, de 50%;  

  • Se algum aluno nestas condições faltar a um miniteste com uma justificação aceite pelo docente responsável pela disciplina, o exame terá um peso de 60% na nota final; 
  • Para os alunos em regime especial ou os alunos ordinários com falta justificada aos dois minitestes ou então que já tenham obtido frequência à disciplina e não tenham solicitado expressamente o acesso aos minitestes, o seu peso será de 70%. 
 

Observações:



  • A frequência da parte laboratorial é obrigatória, conforme expresso acima, e sujeita à legislação no tocante ao número máximo de faltas admissível. 
  • A justificação de uma falta não a elimina da contagem para efeito de aproveitamento, devendo os alunos repetir os trabalhos respectivos numa outra aula ou em tempo extra curricular, desde que autorizado pelo docente e acompanhado pelo técnico responsável pelos laboratórios. 
  • O acesso ao exame final exige um mínimo de 8 valores (em 20) na componente laboratorial. 
  • A componente de avaliação distribuída (laboratorial e minitestes) mantém o seu valor quer para o exame normal quer para o de recurso. 
  • Em caso de melhoria de nota, se realizada no mesmo ano, as regras são as mesmas que vigoram para o recurso; se noutro ano, a nota de frequência (laboratório) do ano em que fez a disciplina volta a contar com o peso de 30%, sendo os restantes 70% atribuídos ao exame.

Fórmula de cálculo da classificação final

Sendo L1=min(L, E-4)

 

    1. Alunos ordinários ou alunos de regime especial que o solicitem: 0,5*E+0,3*L1+0,2*M

 

    1. Alunos com falta justificada a um dos minitestes: 0,6*E+0,3*L1+0,1*M 

 

    1. Alunos ordinários com falta justificada aos dois minitestes: 0,7*E+0,3*L1

 

Provas e trabalhos especiais

Nenhum.

Avaliação especial (TE, DA, ...)

0,7*E+0,3*L1

Melhoria de classificação

 

    1. Classificação final: repetição do exame 

 

    1. Classificação distribuída: repetição da frequência dos laboratórios

 

Observações

Haverá uma instanciação da disciplina no moodle, em que constarão informações actualizadas e que os alunos devem consultar com regularidade, sendo que a informação aí contida é considerada informação que os alunos devem, obrigatoriamente, possuir.

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