Electrónica 3

Código:

EEC0028

Sigla:

ELEC3

Áreas Científicas
Classificação	Área Científica
OFICIAL	Electrónica e Sistemas Digitais

Ocorrência: 2018/2019 - 2S

Ativa?	Sim
Página Web:	http://moodle.up.pt/course/view.php?id=2781
Unidade Responsável:	Departamento de Engenharia Eletrotécnica e de Computadores
Curso/CE Responsável:	Mestrado Integrado em Engenharia Electrotécnica e de Computadores

Ciclos de Estudo/Cursos

Sigla	Nº de Estudantes	Plano de Estudos	Anos Curriculares	Créditos UCN	Créditos ECTS	Horas de Contacto	Horas Totais
MIEEC	79	Plano de estudos oficial	3	-	7	70	189

Língua de trabalho

Português - Suitable for English-speaking students

Objetivos

Esta unidade curricular visa dotar os estudantes com competências de projeto e análise das principais funções/módulos analógicos e digitais de circuitos de condicionamento de sinal, i. e., circuitos de amostragem e multiplexagem analógica, filtros, amplificadores sintonizados, osciladores e multivibradores, PLL, conversores A/D e D/A, e portas digitais simples. O estudo teórico é complementado nas aulas de laboratório com a realização de trabalhos de simulação ou de bancada, onde se exercitam o dimensionamento e a caracterização dos circuitos e se identificam não-idealidades funcionais.

Resultados de aprendizagem e competências

Análise e projeto dos principais blocos analógicos funcionais encontrados em circuitos de condicionamento de sinal e conversão A/D e D/A, e de telecomunicações.

Modo de trabalho

Presencial

Pré-requisitos (conhecimentos prévios) e co-requisitos (conhecimentos simultâneos)

Análise de circuitos, teoria do sinal e dos sistemas; transformadas de Laplace e Z. Análise de circuitos com transístores bipolares e MOS. Frequência de Eletrónica I e Eletrónica II.

Programa

1 - Funções analógicas e mistas (A/D) em sistemas eletrónicos;
2 - Condicionamento de sinal. A amostragem de sinais analógicos: tipos de circuitos de amostragem e retenção (sample-and-hold) e sua caracterização;
3 - Filtros: Funções de aproximação; filtros passivos; filtros ativos; filtros de condensadores comutados;
4 - Amplificadores sintonizados. Aplicações, análise e dimensionamento;
5 - Osciladores: condições de estabelecimento de oscilação, critério de Barkhausen. Topologias de circuitos osciladores e multivibradores;
6 - Circuitos sintetizadores de frequência e Phase-Locked Loop. Análise e caracterização funcional estática e dinâmica;
7 - Conversores A/D e D/A: caracterização e figuras de mérito; arquiteturas de conversores; campos de aplicação das diferentes arquiteturas de conversores.
8 - Portas lógicas CMOS estáticas simples.

Bibliografia Obrigatória

David Johns, Ken Martin; Analog integrated circuit design. ISBN: 0-471-14448-7
Adel S. Sedra, Kenneth C. Smith; Microelectronic circuits. ISBN: 0-19-514252-7
Lawrence P. Huelsman; Active and passive analog filter design. ISBN: 0-07-112519-1

Métodos de ensino e atividades de aprendizagem

1- Três horas de aulas tutoriais semanais onde são apresentados os conteúdos previstos no programa, com referência aos elementos de estudo indicados. São ainda analisados exemplos e resolvidos problemas.
2- Duas horas de aulas laboratoriais semanais onde são realizados trabalhos de bancada, simulação e projeto, fazendo uso de ferramentas CAD e simulação e experimentação laboratorial.

Palavras Chave

Ciências Tecnológicas > Engenharia > Engenharia electrónica

Tipo de avaliação

Avaliação distribuída com exame final

Componentes de Avaliação

Designação	Peso (%)
Exame	40,00
Participação presencial	24,00
Trabalho escrito	12,00
Trabalho laboratorial	24,00
Total:	100,00

Componentes de Ocupação

Designação	Tempo (Horas)
Estudo autónomo	63,00
Frequência das aulas	70,00
Trabalho laboratorial	56,00
Total:	189,00

Obtenção de frequência

As aulas laboratoriais são de frequência obrigatória, aplicando-se a legislação em vigor no que diz respeito ao número máximo de faltas admissível.
Todos os alunos estão sujeitos a este procedimento, incluindo aqueles com estatuto especial (TE, DA,…). Situações de incompatibilidade serão analisadas e, caso se justifique, serão equacionadas soluções que minimizem a perturbação do processo aqui descrito.

Fórmula de cálculo da classificação final

1- Nota Final = 60%*Componente Avaliação Contínua + 40%*Exame, com a condição de a nota de Exame ser igual ou superior a 9,0/20 valores, e a Nota Final ser igual ou superior a 9,5/20 valores.

2 - Componente Avaliação Contínua = 40%*Desempenho geral nas aulas laboratoriais+ 60%*Avaliação dos trabalhos realizados. 

A componente de avaliação contínua baseia-se na participação presencial nas aulas laboratoriais e na avaliação dos trabalhos práticos realizados. A média ponderada da componente de avaliação contínua está limitada inferiormente a 8,0/20 valores como condição necessária para a obtenção de frequência, estando automaticamente vedado o acesso ao exame final se tal objetivo não for cumprido. 

3 - Os estudantes com classificação de Avaliação contínua de 8 ou mais valores obtida em anos anteriores, podem manter essa avaliação sem necessitar de frequentar as aulas laboratoriais. A nota final é calculada como indicado no ponto 2. Estudantes com frequência obtida antes do ano 2014/2015 têm de repetir a frequência das aulas laboratoriais.

4 - A nota de Exame será obtidas em duas provas. A primeira será realizada na semana de 1 a 5 de abril, dizendo respeito aos conteúdos lecionados em fevereiro e março. A segunda em junho na época de exames. A melhoria de classificação de Exame (de uma ou das duas partes) pode ser obtida na prova de Recurso.

Provas e trabalhos especiais

Todos os alunos deverão cumprir, na íntegra e objetivamente, todos os requisitos da avaliação, não estando previstos, à priori, outros critérios para situações extraordinárias. No entanto, a surgirem, serão objeto de análise pontual.

Trabalho de estágio/projeto

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Avaliação especial (TE, DA, ...)

Todos os alunos deverão cumprir, na íntegra e objetivamente, todos os requisitos da avaliação, não estando previstos, à priori, outros critérios para situações extraordinárias. No entanto, a surgirem, serão objeto de análise pontual.

Melhoria de classificação

1. Classificação final: exame.
2. Classificação distribuída: em ano seguinte, a avaliar individualmente atendendo às componentes já realizadas.