CONTROL AND OBSERVATION OF ANALOG NODES IN MIXED-SIGNAL BOARDS

• Tipo: Artigo em Livro de Atas de Conferência Internacional
• Data: 1993

Autores

José S. Matos (Autor) FEUP; Ana C. Leão (Autor) FEUP; João Canas Ferreira (Autor) FEUP

Ata de Conferência Internacional

Título: INTERNATIONAL TEST CONFERENCE 1993 PROCEEDINGS: DESIGNING, TESTING, AND DIAGNOSTICS - JOIN THEM

Páginas: 323-331

International Test Conference 1993: Designing, Testing, and Diagnostics - Join Them

BALTIMORE, MD, OCT 17-21, 1993

Indexação

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Classificação Científica

FOS: Ciências da engenharia e tecnologias > Engenharia electrotécnica, electrónica e informática

Outras Informações

ID Authenticus: P-001-NMZ

Abstract (EN): BST is a well established standard and testability framework for digital ICs and boards. The paper presents a test support IC controlled by an IEEE1149.1 interface, capable of providing access to analog nodes in mixed-signal boards. The proposed architecture (ABSINT - Analog to Boundary Scan Interface) is described and relevant implementation issues are discussed. A demonstrator IC implementing the ABSINT architecture is presented, and it is shown how it can be used to provide analog test channels under control of IEEE1149.1.

Idioma: Inglês

Tipo (Avaliação Docente): Científica

Nº de páginas: 9