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Proceedings of the 21st IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems (DFT 06)

Título
Proceedings of the 21st IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems (DFT 06)
Tipo
Livro de Atas de Conferência Internacional
Ano
2006
Conferência Internacional
21st IEEE International Symposium on Defect. and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 06)
Arlington/Washington DC, EUA, 4 a 6 de Outubro de 2006
Classificação Científica
FOS: Ciências da engenharia e tecnologias > Engenharia electrotécnica, electrónica e informática
Outras Informações
Idioma: Inglês
Tipo (Avaliação Docente): Científica
ISBN: 0-7695-2706-X
Documentos
Não foi encontrado nenhum documento associado à publicação.
Publicações Contidas
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Artigo em Livro de Atas de Conferência Internacional
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