Publicações com os mesmos autores da publicação Using Power Supply Currrent Monitoring and P1149.4 for Parametric Testing of Passive Components

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Artigo em Revista Científica Internacional

Test of mixed-signal boards using test-support ICs. Part I - Hardware

José Silva Matos (Autor) (FEUP); João Canas Ferreira (Autor) (FEUP); Ana Leão (Autor) (Outra); José Machado da Silva (Autor) (FEUP)

1995

Mixed current/voltage observation towards effective testing of analog and mixed-signal circuits

José Alberto Peixoto Machado da Silva (Autor) (FEUP); José Alfredo Ribeiro da Silva Matos (Autor) (FEUP); Ian Bell (Autor) (Outra); Gaynor Taylor (Autor) (Outra)

1996

Classificação Científica Indexação

ISI Web of Knowledge - 5 Citações

Scopus - 9 Citações

FOS: Engenharia electrotécnica, electrónica e informática

CORDIS: Engenharia electrotécnica

Implementation and evaluation of mixed current / voltage testing using the IEEE P1149.4 infrastructure

José Machado da Silva (Autor) (FEUP); José Carlos Alves (Autor) (FEUP); José Silva Matos (Autor) (FEUP)

1997

Indexação

Scopus

Functional in-circuit characterisation of Sigma Delta modulators

José Alfredo Ribeiro da Silva Matos (Autor) (FEUP); José Alberto Peixoto Machado da Silva (Autor) (FEUP); Jorge Duarte (Autor) (Outra)

2002

Classificação Científica Indexação

ISI Web of Knowledge - 1 Citação

Scopus - 1 Citação

FOS: Engenharia electrotécnica, electrónica e informática

CORDIS: Engenharia electrónica

Estimation of analogue-to-digital converter’s signal-to-noise plus distortion ratio using the code histogram method

Hélio Mendes de Sousa Mendonça (Autor) (FEUP); José Alberto Peixoto Machado da Silva (Autor) (FEUP); José Alfredo Ribeiro da Silva Matos (Autor) (FEUP)

2008

Classificação Científica Indexação Documentos

ISI Web of Knowledge

ISI Web of Science

Scopus

INSPEC

COMPENDEX

FOS: Engenharia electrotécnica, electrónica e informática

CORDIS: Engenharia electrotécnica

Não foi encontrado nenhum documento associado à publicação com acesso permitido.

Cross-correlation between iDD and vOUT signals for testing analogue circuits

José Alberto Peixoto Machado da Silva (Autor) (FEUP); José Alfredo Ribeiro da Silva Matos (Autor) (FEUP); Ian Bell (Autor) (Outra); Gaynor Taylor (Autor) (Outra)

1995

Classificação Científica

FOS: Engenharia electrotécnica, electrónica e informática

CORDIS: Engenharia electrónica

ADC testing using joint time-frequency analysis

José Alfredo Ribeiro da Silva Matos (Autor) (FEUP); José Alberto Peixoto Machado da Silva (Autor) (FEUP); Hélio Mendes de Sousa Mendonca (Autor) (FEUP)

2001

Classificação Científica Indexação

ISI Web of Knowledge - 1 Citação

Scopus - 2 Citações

FOS: Engenharia electrotécnica, electrónica e informática

CORDIS: Engenharia electrónica

Artigo em Livro de Atas de Conferência Nacional

Teste de Circuitos Electrónicos Analógicos a Partir de um Barramento de Teste Digital Normalizado

Ana Leão (Autor) (Outra); João Canas Ferreira (Autor) (FEUP); José Machado da Silva (Autor) (FEUP); José Silva Matos (Autor) (FEUP)

1994

O Barramento de Teste Analógico IEEE P1149.4; Descrição e Exemplos de Aplicação

José Machado da Silva (Autor) (FEUP); José Silva Matos (Autor) (FEUP)

1997

Avaliação do Teste de Circuitos Electrónicos Analógicos e Mistos (A/D) por Monitorização da Corrente de Alimentação

José Machado da Silva (Autor) (FEUP); José Silva Matos (Autor) (FEUP); Ian Bell (Autor) (Outra); Gaynor Taylor (Autor) (Outra)

1994

Artigo em Livro de Atas de Conferência Internacional

Use of power supply current and output voltage observation for testing large mixed-signal devices

José Machado da Silva (Autor) (FEUP); José Silva Matos (Autor) (FEUP); Bell, IM (Autor) (Outra); Taylor, GE (Autor) (Outra)

1996

Indexação

ISI Web of Knowledge

Use of power supply current and output voltage observation for testing large mixed-signal devices

José Machado da Silva (Autor) (FEUP); José Silva Matos (Autor) (FEUP); Bell Ian, M (Autor) (Outra); Taylor Gaynor, E (Autor) (Outra)

1995

Indexação

Scopus - 2 Citações

Test of a SC Filter Using Cross-Correlation and Reconfigurable Hardware

José Machado da Silva (Autor) (FEUP); José Silva Matos (Autor) (FEUP); Jorge Duarte (Autor) (Outra)

1999

Test of a SC Filter Using Cross-Correlaction and Reconfigurable Hardware

José Machado da Silva (Autor) (FEUP); J. Duarte (Autor) (Outra); José Silva Matos (Autor) (FEUP)

1999

Classificação Científica

FOS: Engenharia electrotécnica, electrónica e informática

Test of a D/A Converter Using Cross-correlation and Reconfigurable Hardware

José Machado da Silva (Autor) (FEUP); Jorge Duarte (Autor) (Outra); José Silva Matos (Autor) (FEUP)

1999

Test Node Selection and Fault Diagnosis in an IEEE1149.4 Environment

Luís Laranjeira (Autor) (Outra); José Machado da Silva (Autor) (FEUP); José Silva Matos (Autor) (FEUP)

1999

Classificação Científica

FOS: Engenharia electrotécnica, electrónica e informática

CORDIS: Engenharia electrotécnica

Parametric Testing of Passive Components Using Power Supply Currrent Monitoring

José Machado da Silva (Autor) (FEUP); José Silva Matos (Autor) (FEUP)

1996

Mixed-signal BIST using correlation and reconfigurable hardware

José Machado da Silva (Autor) (FEUP); J. S. Duarte (Autor) (Outra); José Silva Matos (Autor) (FEUP)

2000

Indexação

Scopus - 4 Citações

Mixed-Signal BIST in a SoC Environment

José Machado da Silva (Autor) (FEUP); Jorge Duarte (Autor) (Outra); José Silva Matos (Autor) (FEUP)

2000

Mixed Current/Voltage Observation Towards Effective Testing of Analogue and Mixed-Signal Circuits

José Machado da Silva (Autor) (FEUP); José Silva Matos (Autor) (FEUP)

1995

Registos 1 a 20 de 42

 

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