ADC testing using joint time-frequency analysis

• Tipo: Artigo em Revista Científica Internacional
• Data: 2001

Autores

José Alfredo Ribeiro da Silva Matos (Autor) FEUP; José Alberto Peixoto Machado da Silva (Autor) FEUP; Hélio Mendes de Sousa Mendonca (Autor) FEUP

Revista

Título: Computer Standards & Interfaces

Vol. 23 Nº 2

Páginas: 129-135

ISSN: 0920-5489

Editora: Elsevier

Indexação

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Classificação Científica

FOS: Ciências da engenharia e tecnologias > Engenharia electrotécnica, electrónica e informática

CORDIS: Ciências Tecnológicas > Engenharia > Engenharia electrónica

Outras Informações

ID Authenticus: P-000-VKY

DOI: 10.1016/s0920-5489(01)00067-8

Resumo (PT): É proposta a utilização da transformada conjunta tempo-frequência no teste de conversores A/D. É mostrado como pode ser cracterizado o conversor na gama de frequências estabelecida com recurso a uma única operação de teste.

Abstract (EN): Analog-to-digital converter (ADC) characterization is usually performed using stationary stimuli like sine waves. However, the use of a non-stationary stimulus, besides providing testing conditions closer to those found in real applications, can lead to interesting improvements in ADC testing speed, This kind of signal needs proper processing techniques in order to extract useful information. In this paper we propose the use of joint time-frequency analysis (JTFA) for this purpose. The basic principles of the technique, and how it can be used in ADC testing are presented. in particular, a method for characterising an ADC on its entire bandwidth using a single stimulus is described.

Idioma: Inglês

Tipo (Avaliação Docente): Científica

Nº de páginas: 7