Código: | EIG0010 | Sigla: | EE |
Áreas Científicas | |
---|---|
Classificação | Área Científica |
OFICIAL | Física |
Ativa? | Sim |
Unidade Responsável: | Secção de Automação, Instrumentação e Controlo |
Curso/CE Responsável: | Mestrado Integrado em Engenharia e Gestão Industrial |
Sigla | Nº de Estudantes | Plano de Estudos | Anos Curriculares | Créditos UCN | Créditos ECTS | Horas de Contacto | Horas Totais |
---|---|---|---|---|---|---|---|
MIEIG | 110 | Plano de estudos oficial a partir de 2006/07 | 1 | - | 6 | 56 | 162 |
Apresentar os conceitos fundamentais da Electricidade e Electrónica no âmbito do curso de Engenharia Industrial e Gestão.
Espera-se que, no final do período lectivo, os estudantes: 1. saibam utilizar as ferramentas tradicionais de análise de circuitos eléctricos de corrente contínua e de corrente alternada; 2. saibam analisar circuitos electrónicos elementares; 3. saibam utilizar equipamento laboratorial corrente: osciloscópios, multímetros, fontes de alimentação, geradores de sinal.
Conhecimentos de eletricidade básica, da unidade curricular de Física e Química, bem como cálculo diferencial e integral, de Análise Matemática I.
1. Análise de circuitos DC 1.1. circuitos equivalentes de Thévenin e de Norton 1.2. máxima transferência de potência 1.3. Equivalência entre fontes de tensão/corrente 2. Análise de circuitos AC 2.1. elementos armazenadores de energia 2.2. fontes de tensão/corrente AC 2.3. análise de circuitos com elementos dinâmicos 2.4. fasores e impedância 2.5. métodos de análise de circuitos AC 2.6. resposta em frequência de circuitos AC 3. Potência em circuitos AC 3.1. potência activa, reactiva e aparente 3.2. factor de potência 4. Sistemas trifásicos 4.1 análise de circuitos trifásicos 4.2. potência em circuitos trifásicos 5. Semicondutores e díodos 5.1. condução eléctrica nos semicondutores 5.2. a junção PN 5.3. modelos lineares para os díodos 5.4. circuitos com díodos 6. Transístores 6.1. o transístor BJT 6.2. polarização de transístores 6.3. circuitos com transístores 7. Amplificadores Operacionais 7.1. amplificador operacional ideal 7.2. o amplificador operacional em anel aberto e com realimentação 7.3. limitações físicas
Dois tipos de aulas complementares (teóricas (T) e práticas (P)), cujos objectivos se interligam entre si: exposição do programa da unidade curricular e resolução de problemas (T) e execução de trabalhos práticos em laboratório (P).
Designação | Peso (%) |
---|---|
Participação presencial | 30,00 |
Teste | 70,00 |
Total: | 100,00 |
Designação | Tempo (Horas) |
---|---|
Estudo autónomo | 108,00 |
Frequência das aulas | 52,00 |
Total: | 160,00 |
- não exceder o número limite de faltas nas aulas P (3 faltas).
São objecto de avaliação: - O desempenho do estudante nas aulas laboratoriais (DL), complementado pela análise de diversos trabalhos prévios; - 2 mini-testes escritos (sem consulta): MT1, realizado a meio do semestre e MT2, realizado no final; A aprovação nesta unidade curricular está dependente da obtenção de uma classificação mínima de 7,5 valores nas seguintes componentes de avaliação: MT1 e MT2. A classificação final (CF) será calculada da seguinte forma: CF = 0,3*DL+0,35*MT1+0,35*MT2 (caso min{MT1} e min{MT2} >= 7,5 valores) CF = min{MT1, MT2} (caso min{MT1} ou min{MT2} < 7,5 valores) Em época de recurso, os estudantes poderão submeter-se a re-avaliação das seguintes componentes de avaliação: DL, através de exame laboratorial; MT1 e/ou MT2, através de MT escrito parcial ou total.
Os estudantes podem optar por frequentar a UC como se fossem estudantes ordinários, submetendo-se às normas de avaliação destes. Em alternativa os estudantes deverão submeter-se simultaneamente a: 1. um exame prático (prova laboratorial sem consulta) que substituirá a componente DL da avaliação; 2. um exame escrito (sem consulta) que substituirá as componentes MT1 e MT2 da avaliação.
Os estudantes podem optar por frequentar a disciplina como se fossem estudantes ordinários, submetendo-se às normas de avaliação destes. Em alternativa os estudantes deverão submeter-se simultaneamente a: 1. um exame prático (prova laboratorial sem consulta) que substituirá a componente DL da avaliação; 2. um exame escrito (sem consulta) que substituirá as componentes MT1 e MT2 da avaliação.