Saltar para:
Logótipo
Você está em: Início > Publicações > Visualização > Growth and characterisation of cadmium sulphide nanocrystals embedded in silicon dioxide films

Growth and characterisation of cadmium sulphide nanocrystals embedded in silicon dioxide films

Título
Growth and characterisation of cadmium sulphide nanocrystals embedded in silicon dioxide films
Tipo
Artigo em Revista Científica Internacional
Ano
1998
Autores
Rolo, AG
(Autor)
Outra
A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. Ver página do Authenticus Sem ORCID
Vieira, LG
(Autor)
Outra
A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. Ver página do Authenticus Sem ORCID
Gomes, MJM
(Autor)
Outra
A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. Ver página do Authenticus Sem ORCID
Ribeiro, JL
(Autor)
Outra
A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. Sem AUTHENTICUS Sem ORCID
Belsley, MS
(Autor)
Outra
A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. Ver página do Authenticus Sem ORCID
dos Santos, MP
(Autor)
Outra
A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. Ver página do Authenticus Sem ORCID
Revista
Título: Thin Solid FilmsImportada do Authenticus Pesquisar Publicações da Revista
Vol. 312
Páginas: 348-353
ISSN: 0040-6090
Editora: Elsevier
Outras Informações
ID Authenticus: P-001-8NK
Abstract (EN): In this communication we report on the growth and the optical characterisation of CdS quantum dots in the diameter ran,at of 4-10 nm embedded in silicon dioxide glass films grown by magnetron If-sputtering technique with post-deposition annealing. Optical, transmission measurements display a marked blue shift of the absorption band edge due to the quantum confinement of the electrons and holes in the CdS nanocrystals. The mean diameter of the nanocrystals wins estimated from absorption spectra using a standard theoretical model. A study of the effect of the nanocrystal size an the Raman spectra has been made from an analysis of the first order LO mode lineshape. The increase in the linewidth observed with decreasing crystal size is in agreement with the results of a calculation based on the phonon confinement model. The asymmetric lineshape is well reproduced by the model, but they fail to reproduce the large low-frequency tail. The origin of this tail is dir;cussed considering several possible sources proposed in the literature and is under study. Room temperature infrared reflectance measurements have also been obtained showing a diffuse band at about 230-300 cm(-1), which closely corresponds to CdS optical polar phonons observed in the bulk crystals. However, we are unable to fit the observed spectra by assuming just this contribution. Instead, by including an additional contribution due to CdO we are able to well simulate the experimental spectra using a model based on the Maxwell-Garnet theory. (C) 1998 Elsevier Science S.A.
Idioma: Inglês
Tipo (Avaliação Docente): Científica
Nº de páginas: 6
Documentos
Não foi encontrado nenhum documento associado à publicação.
Publicações Relacionadas

Da mesma revista

Titanium dental implants coated with Bonelike((R)): Clinical case report (2006)
Artigo em Revista Científica Internacional
Lobato, JV; Sooraj S Hussain; Botelho, CM; Mauricio, AC; Lobato, JM; Lopes, MA; Américo Afonso; Ali, N; Santos, JD
The performance of Zr as barrier layer for Pt bottom electrodes in Pb(Zr,Ti)O-3 thin film capacitors (2005)
Artigo em Revista Científica Internacional
Mardare, CC; Joanni, E; Mardare, AI; Carlos Sá; Tavares, PB
The influence of silver on the structure and mechanical properties of (TiAl)-based intermetallics (1999)
Artigo em Revista Científica Internacional
Vieira, MT; Trindade, B; Ramos, AS; Fernandes, JV; Vieira, MF
Suppression of magnetostructural transition on GdSiGe thin film after thermal cyclings (2017)
Artigo em Revista Científica Internacional
Pires, AL; Belo, JH; Gomes, IT; Hadimani, RL; Schlagel, DL; Lograsso, TA; Jiles, DC; Lopes, AML; araujo, j. p.; pereira, a. m.
Structural study of Si1-xGex nanocrystals embedded in SiO2 films (2010)
Artigo em Revista Científica Internacional
Pinto, SRC; Kashtiban, RJ; Rolo, AG; Buljan, M; Chahboun, A; Bangert, U; Barradas, NP; Alves, E; Gomes, MJM

Ver todas (32)

Recomendar Página Voltar ao Topo
Copyright 1996-2024 © Faculdade de Engenharia da Universidade do Porto  I Termos e Condições  I Acessibilidade  I Índice A-Z  I Livro de Visitas
Página gerada em: 2024-10-02 às 01:34:12 | Política de Utilização Aceitável | Política de Proteção de Dados Pessoais | Denúncias