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IEEE DTIS: 2006 International Conference on Design & Test of Integrated Systems in Nanoscale Technology, Proceedings
Título
IEEE DTIS: 2006 International Conference on Design & Test of Integrated Systems in Nanoscale Technology, Proceedings
Tipo
Livro de Atas de Conferência Internacional
Ano
2006
Conferência Internacional
International Conference on Design and Test of Integrated Systems in Nanoscale Technology
Tunis, TUNISIA, SEP 05-07, 2006
Outras Informações
Idioma:
Inglês
Tipo (Avaliação Docente):
Científica
ISBN:
0-7803-9726-6
Documentos
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Publicações Contidas
Artigo em Livro de Atas de Conferência Internacional
José Machado da Silva (Autor) (FEUP)
2006
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