Semicondutores e Dispositivos
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Área Científica |
OFICIAL |
Física |
Ocorrência: 2009/2010 - 2S
Ciclos de Estudo/Cursos
Língua de trabalho
Português
Objetivos
- Importância histórica dos semicondutores.
- Compreensão dos conceitos físicos
- Relação entre estructuras cristalinas / bandas de energia / propriedades electricas em semicondutores.
- Propriedades de transporte em semicondutores
- Estatística em semicondutores
- Aplicações de materiais semicondutores em dispositivos
Programa
Introdução: Característicos Básicos de Semicondutores.
Propriedades qualitativos dos semicondutores.
Composição dos semicondutores.
Estruturas Cristalinas dos Semicondutores.
Conceitos básicos.
Terminologia cristalográfica
Estruturas cristalinas dos semicondutores.
Semicondutores do grupo IV; III-V; II-VI.
A rede recíproca.
Ligações químicas em semicondutores.
Estruturas de Bandas de Energia.
A equação de Schrödinger.
Introdução ao potencial periódico.
Condições de fronteira de Born von-Kármán
A equação de Schrödinger num potencial periódico.
Teorema de Bloch.
Zonas de Brillouin.
O modelo da rede vazia.
O modelo do electrão quase – livre.
O modelo do electrão ligado (tight-binding).
Outros modelos de bandas de energia.
Estruturas de bandas de energia.
Dinâmica do Movimento Electrónico em Bandas de Energia.
Velocidade de grupo.
O conceito da massa efectiva.
A equação de força.
A dinâmica dos electrões e das lacunas.
A superficie de Fermi.
Métodos experimentais para medir bandas de energia.
Forças de Lorentz e orbitas.
Ressonância de ciclotrão.
Determinação da massa efectiva.
Concentração e tipo de portadores de carga: o efeito Hall.
PARTE II: A Física dos Semicondutores
Estatística de Equilíbrio em Semicondutores.
Semicondutores intrínsecos.
Bandas de energia esféricas e parabólicas.
A lei de acção mássica.
Bandas de energia elipsoidais.
Bandas de valência multiplas.
Semicondutores extrínsecos.
Impurezas do tipo dador.
Impurezas do tipo aceitador.
Semicondutores compensados.
Fenómenos de Transporte.
Deriva de portadores: mobilidade e resistividade.
Difusão de portadores de carga.
Injecção de portadores de carga.
A equação de Boltzmann de transporte.
Dependência de energia do tempo de relaxação.
Processos de geração e recombinação.
Recombinação directa.
Recombinação indirecta.
Equações de continuidade.
Injecção no estado estacionário.
A experiência de Shockley Haynes.
A recombinação superficial.
Propriedades de magneto-transporte.
Magneto-resistência.
O efeito Hall.
Efeitos de altos campos.
Função de distribuição em campos eléctricos altos.
Ionização de campo.
Ionização por impacto.
A Junção p-n.
Equilíbrio térmico.
A região de deplecção.
A capacidade da região de deplecção.
Característica de corrente e tensão (I-V).
Efeitos de geração e recombinação.
Efeitos de temperatura.
Armazenagem de carga.
Capacidade de difusão.
Comportamento transiente.
Ruptura em junções p-n.
Ruptura por efeito avalanche.
Ruptura por efeito Zener.
PARTE III: Dispositivos Semicondutores.
O Transistor Bipolar.
A acção do transístor.
Operação em modo activo.
Ganho de corrente.
Características estáticas do transistor bipolar.
Correntes ideias no transistor.
Modo activo
Modos de operação.
Modificação das características estáticas.
O modelo de Ebers-Moll.
Operação do transistor bipolar em frequência.
Comutação e transitórios.
Dispositivos Unipolares.
O contacto metal – semicondutor.
Relação das bandas de energia.
Característica de corrente e tensão (I-V).
O contacto óhmico.
O JFET.
Os princípios de operação.
Característica de corrente e tensão (I-V).
O MESFET.
O díodo MOS.
O díodo MOS ideal.
Região de deplecção.
Curvas do MOS ideal.
O MOSFET: Características básicas.
Região linear e de saturação.
Tipos de MOSFET.
Dispositivos Fotónicos.
Transições radiativas.
O LED.
O laser semicondutor.
Equações de taxas.
Equilíbrio térmico.
Não equílibrio: Inversão de população.
Coeficientes de absorção e de ampliação de radiação.
Ganho efectivo e limiar do efeito laser.
Operação e acção laser.
Limitação de portadores e limitação óptica.
Características da luz laser.
O fotodetector.
O fotocondutor.
O fotodíodo.
Produção de Semicondutores
Métodos de fabrico.
Filmes finos.
VLSI e miniaturização.
Bibliografia Obrigatória
000010743. ISBN: 0-19-850644-9
000009637. ISBN: 0-13-666496-2
Métodos de ensino e atividades de aprendizagem
Aulas teóricas e teorico-práticas
Tipo de avaliação
Avaliação distribuída com exame final
Componentes de Avaliação
Descrição |
Tipo |
Tempo (Horas) |
Peso (%) |
Data Conclusão |
Participação presencial (estimativa) |
Participação presencial |
49,00 |
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Total: |
- |
0,00 |
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Obtenção de frequência
Aulas TP são obrigatórias
Fórmula de cálculo da classificação final
Avaliação continua (50%)
Mini-testes (cada 2 semanas nas aulas TP) (20%)
Apresentação escrita e oral (30%)
Escolhe de um tema (a ser aprovado pelo professor)
Exames (50%)
2 testes (2 x 25%)
Ou
Exame final (50%)
Provas e trabalhos especiais
Ensaio + apresentação de um tema relacionado com os semicondutores.
Avaliação especial (TE, DA, ...)
-
Melhoria de classificação
sim
Observações
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