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Mechanical characterisation of gama-TiAl thin films obtained by two different sputtering routes

Título
Mechanical characterisation of gama-TiAl thin films obtained by two different sputtering routes
Tipo
Artigo em Revista Científica Internacional
Ano
2002
Autores
M. T. Vieira
(Autor)
Outra
A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. Sem AUTHENTICUS Sem ORCID
B. Trindade
(Autor)
Outra
A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. Sem AUTHENTICUS Sem ORCID
A. S. Ramos
(Autor)
Outra
A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. Sem AUTHENTICUS Sem ORCID
J Fernandes
(Autor)
Outra
A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. Sem AUTHENTICUS Sem ORCID
Manuel Vieira
(Autor)
FEUP
Ver página pessoal Enviar mensagem Pesquisar Publicações do Participante Ver página do Authenticus Ver página ORCID
Revista
Vol. 329
Páginas: 147-152
ISSN: 0921-5093
Editora: Elsevier Science
Indexação
Publicação em ISI Web of Science ISI Web of Science
Publicação em Scopus Scopus
COMPENDEX
Outras Informações
Idioma: Português
Tipo (Avaliação Docente): Científica
Nº de páginas: 6
Documentos
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