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Structure and properties of sputtered TiAl-M (M=Ag, Cr) thin films

Título
Structure and properties of sputtered TiAl-M (M=Ag, Cr) thin films
Tipo
Artigo em Livro de Atas de Conferência Internacional
Ano
1999
Autores
C. Coelho
(Autor)
Outra
A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. Sem AUTHENTICUS Sem ORCID
A. S. Ramos
(Autor)
Outra
A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. Sem AUTHENTICUS Sem ORCID
B. Trindade
(Autor)
Outra
A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. Sem AUTHENTICUS Sem ORCID
M. T. Vieira
(Autor)
Outra
A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. Sem AUTHENTICUS Sem ORCID
J.V. Fernandes
(Autor)
Outra
A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. Sem AUTHENTICUS Sem ORCID
Manuel Vieira
(Autor)
FEUP
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Ata de Conferência Internacional
International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films
San Diego, 01 - ABRIL - 1999
Outras Informações
Idioma: Português
Tipo (Avaliação Docente): Científica
Documentos
Não foi encontrado nenhum documento associado à publicação.
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M. T. Vieira; B. Trindade; J.V. Fernandes; M. F. Vieira; A. S. Ramos; C. Coelho
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