Gatewaying IEEE 1149.1 and IEEE 1149.7 test access ports

• Tipo: Poster em Conferência Internacional
• Data: 2012-06

Autores

José Martins Ferreira (Autor) FEUP; Francisco R. Fernandes (Autor) Outra; Ricardo J. S. Machado (Autor) Outra; Manuel G. Gericota (Autor) Outra

Conferência Internacional

18th IEEE International On-Line Testing Symposium

Sitges, Spain, 27-29 June 2012

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Classificação Científica

CORDIS: Ciências Tecnológicas > Engenharia > Engenharia electrotécnica

FOS: Ciências da engenharia e tecnologias > Engenharia electrotécnica, electrónica e informática

Outras Informações

DOI: 10.1109/IOLTS.2012.6313858

Abstract (EN): In this paper, we present a description of our developed adapter, which takes acts as a gateway between IEEE 1149.1 and IEEE 1149.7 test infrastructures. The referred adapter reduces the pins of the TAP from 4 to 2 and implements advanced capabilities, such as Parking State of a TAPC and the Reset and Selection Unit (RSU).

Idioma: Inglês

Tipo (Avaliação Docente): Científica