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OPTICAL MEASUREMENT SYSTEMS FOR INDUSTRIAL INSPECTION V, PTS 1 AND 2

Título
OPTICAL MEASUREMENT SYSTEMS FOR INDUSTRIAL INSPECTION V, PTS 1 AND 2
Tipo
Livro de Atas de Conferência Internacional
Ano
2007
Conferência Internacional
Conference on Optical Measurement Systems for Industrial Inspection V
Munich, GERMANY, JUN 18-22, 2007
Outras Informações
Idioma: Inglês
Tipo (Avaliação Docente): Científica
ISBN: 978-0-8194-6758-4
Coleção: PROCEEDINGS OF THE SOCIETY OF PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS (SPIE)
Vol.: 6616
Documentos
Não foi encontrado nenhum documento associado à publicação.
Publicações Contidas
Artigo em Livro de Atas de Conferência Internacional
Tavares, P (Autor) (Outra); Viriato, N (Autor) (Outra); Reis, J (Autor) (Outra); Mário Vaz (Autor) (FEUP)
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