Abstract (EN):
PZT 65/35 thin films were deposited on Pt-coated Si (100) and MgO (110) substrates using the sol-gel technique. The crystalline structure of the films was investigated by X-ray diffraction and Raman spectroscopy. Results of measurements and modeling of the optical spectra for the PZT films on MgO substrates are reported. The effective dielectric function is calculated versus frequency and Gaussian tail of the join density of states under the assumption of direct band to band transition.
Idioma:
Inglês
Tipo (Avaliação Docente):
Científica
Nº de páginas:
6
Documentos
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