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Publicações

Evaluation of i(DD)/V-OUT cross-correlation for mixed current/voltage testing of analogue and mixed-signal circuits

Título
Evaluation of i(DD)/V-OUT cross-correlation for mixed current/voltage testing of analogue and mixed-signal circuits
Tipo
Artigo em Livro de Atas de Conferência Internacional
Ano
1996
Autores
José Machado da Silva
(Autor)
FEUP
Matos, JS
(Autor)
Outra
A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. Sem AUTHENTICUS Sem ORCID
Ata de Conferência Internacional
Páginas: 264-268
European Design and Test Conference
PARIS, FRANCE, MAR 11-14, 1996
Outras Informações
ID Authenticus: P-001-F4V
Abstract (EN): The use of cross-correlation between power supply current and output voltage dynamic responses is presented as a methodology for improved mixed current/voltage testing of analogue and mixed-signal circuits. Results obtained from simulations are presented which show that better fault coverage and a simplification of test circuitry can be obtained, when compared with the results obtained from the direct observation of the individual signals. These advantages are important factors to develop viable new design for testability and built-in self test techniques.
Idioma: Inglês
Tipo (Avaliação Docente): Científica
Nº de páginas: 5
Documentos
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