HDL approach to board-level BIST

• Tipo: Artigo em Livro de Atas de Conferência Internacional
• Data: 1993

Autores

Gustavo R. Alves (Autor) Outra; Manuel G. Gericota (Autor) Outra; José L. Ramalho (Autor) Outra; José M. M. Ferreira (Autor) FEUP

Ata de Conferência Internacional

Título: Proceedings of the European Design Automation Conference

Páginas: 410-415

Euro-DAC - European Design Automation Conference

Hamburgo, Alemanha, 20 - SETEMBRO - 1993

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Classificação Científica

CORDIS: Ciências Tecnológicas > Engenharia > Engenharia electrotécnica

FOS: Ciências da engenharia e tecnologias > Engenharia electrotécnica, electrónica e informática

Outras Informações

DOI: 10.1109/EURDAC.1993.410669

Abstract (EN): Boundary scan is now the most promising technology for testing high-complexity printed circuit boards. The number of BST components available to board-level designers is however still restricted, limiting the achievable fault coverage. The requirements to improve board-level testability are analyzed, and a corresponding set of testability building blocks are proposed. A high flexibility and reduced cost solution is described, which implements these blocks on medium-complexity PLDs using a simple and powerful HDL.

Idioma: Inglês

Tipo (Avaliação Docente): Científica

Nº de páginas: 6