IEEE Std 1149.7: What, Why, Where?

• Tipo: Artigo em Livro de Atas de Conferência Internacional
• Data: 2012-11

Autores

José Martins Ferreira (Autor) FEUP; Francisco R. Fernandes (Autor) Outra; Ricardo J. S. Machado (Autor) Outra; Manuel G. O. Gericota (Autor) Outra

Ata de Conferência Internacional

Título: XXVII Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS'2012)

Páginas: 118-123

XXVII Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS'2012)

Avignon, France, 28 a 30 de Novembro de 2012

Classificação Científica

CORDIS: Ciências Tecnológicas > Engenharia > Engenharia electrotécnica

FOS: Ciências da engenharia e tecnologias > Engenharia electrotécnica, electrónica e informática

Outras Informações

Abstract (EN): The IEEE Std 1149.7 holds the promise of great improvements for testing electronic circuits, when used along with other IEEE standards (particularly those that use the IEEE Std 1149.1 for test access and control). In this paper we describe ¿what¿ is the IEEE Std 1149.7, the reasons ¿why¿ we may consider to use it instead of IEEE Std 1149.1, and we highlight the application spectrum ¿where¿ this new standard can be useful.

Idioma: Inglês

Tipo (Avaliação Docente): Científica

Nº de páginas: 6