Auto-Teste de Sistemas Electrónicos com BST

• Type: Article in International Conference Proceedings Book
• Date: 1991

Authors

José Silva Matos (Author) FEUP; José M. M. Ferreira (Author) FEUP; Filipe Sousa Pinto (Author) Other

Conference proceedings International

Title: Actas do VI Congresso da Sociedade Brasileira de Microelectrónica

Pages: 356-365

VI Congresso da Sociedade Brasileira de Microelectrónica

Scientific classification

CORDIS: Technological sciences > Engineering > Electrical engineering

FOS: Engineering and technology > Electrical engineering, Electronic engineering, Information engineering

Other information

Resumo (PT): A metodologia de teste Boundary Scan (BST) surgiu como resposta aos problemas colocados ao teste de cartas de circuito impresso contendo VLSIs e ASICs de grande complexidade e exibindo difícil acesso aos nós físicos da carta. Baseia-se na disponibilidade de circuitos integrados em que células especiais associadas aos pinos de entrada e saída realizam o equivalente a um "bed-of-nails" eletrónico, facilitando o teste das ligações na carta e o controlo dos mecanismos de auto-teste disponíveis nos integrados. Este trabalho, depois de descrever sucintamente a metodologia, discute os aspetos essenciais associados com o teste de interligações e apresenta a arquitetura de um processador dedicado para o autoteste de cartas de circuito impresso com BST.

Language: Portuguese

Type (Professor's evaluation): Scientific

No. of pages: 10