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Investigation of photoelectrical properties of CdSe nanocrystals embedded in a SiO(2) matrix

Título
Investigation of photoelectrical properties of CdSe nanocrystals embedded in a SiO(2) matrix
Tipo
Artigo em Revista Científica Internacional
Ano
2008
Autores
Kafadaryan, EA
(Autor)
Outra
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Levichev, S
(Autor)
Outra
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Pinto, SRC
(Autor)
Outra
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Aghamalyan, NR
(Autor)
Outra
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Hovsepyan, RK
(Autor)
Outra
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Badalyan, GR
(Autor)
Outra
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Chahboun, A
(Autor)
Outra
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Rolo, AG
(Autor)
Outra
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Gomes, MJM
(Autor)
Outra
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Revista
Vol. 23
ISSN: 0268-1242
Outras Informações
ID Authenticus: P-003-WVE
Abstract (EN): CdSe nanocrystals (NCs) embedded in SiO(2) thin films were prepared using RF-magnetron co-sputtering. The average NC size was estimated to be 18 nm. The dark and photocurrent temporal dependences have been measured as a function of the magnitude of applied voltage (50-150 V). Annealing the samples seems to improve the photoconductivity (similar to 10(-12) Omega(-1)) that increases with the film thickness and slightly changes under the bias voltage. Furthermore, the photovoltage measurements showed that a concentration of CdSe in the range of 27 mol% leads to the generation of a photovoltaic signal up to 5 V at 400 mu W cm(-2). These results demonstrate the potential of silica films with embedded CdSe NCs for photovoltaic applications.
Idioma: Inglês
Tipo (Avaliação Docente): Científica
Nº de páginas: 5
Documentos
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