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THERMAL STABILITY OF ENERGY-EMISSION FROM CdTe NANOCRYSTALS EMBEDDED IN SiO2 THIN FILMS

Título
THERMAL STABILITY OF ENERGY-EMISSION FROM CdTe NANOCRYSTALS EMBEDDED IN SiO2 THIN FILMS
Tipo
Artigo em Revista Científica Internacional
Ano
2010
Autores
Levichev, S
(Autor)
Outra
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Chahboun, A
(Autor)
Outra
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Rolo, AG
(Autor)
Outra
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Conde, O
(Autor)
Outra
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Gomes, MJM
(Autor)
Outra
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Revista
Vol. 24
Páginas: 2837-2843
ISSN: 0217-9849
Editora: World Scientific
Indexação
Publicação em ISI Web of Knowledge ISI Web of Knowledge - 0 Citações
Publicação em Scopus Scopus - 0 Citações
Outras Informações
ID Authenticus: P-003-0XZ
Abstract (EN): CdTe-doped SiO2 thin films were produced by RF magnetron co-sputtering technique. Presence of CdTe nanocrystals inside the silica matrix was confirmed by Raman spectroscopy and grazing incidence X-ray diffraction. The samples demonstrate size dependent photoluminescence. Temperature dependent photoluminescence measurements were carried out in the temperature range 15-295 K and revealed energy-emission thermal stability. This feature can be usefully applied in a production of light-emitting diodes with wavelength stability in a wide temperature range.
Idioma: Inglês
Tipo (Avaliação Docente): Científica
Nº de páginas: 7
Documentos
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