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Cross-correlation between iDD and vOUT signals for testing analogue circuits

Título
Cross-correlation between iDD and vOUT signals for testing analogue circuits
Tipo
Artigo em Revista Científica Internacional
Ano
1995
Autores
José Alberto Peixoto Machado da Silva
(Autor)
FEUP
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José Alfredo Ribeiro da Silva Matos
(Autor)
FEUP
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Ian Bell
(Autor)
Outra
A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. Sem AUTHENTICUS Sem ORCID
Gaynor Taylor
(Autor)
Outra
A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. Sem AUTHENTICUS Sem ORCID
Revista
Título: Electronics LettersImportada do Authenticus Pesquisar Publicações da Revista
Vol. 31 Nº 19
Páginas: 1617-1618
ISSN: 0013-5194
Editora: Wiley-Blackwell
Classificação Científica
FOS: Ciências da engenharia e tecnologias > Engenharia electrotécnica, electrónica e informática
CORDIS: Ciências Tecnológicas > Engenharia > Engenharia electrónica
Outras Informações
Idioma: Inglês
Tipo (Avaliação Docente): Científica
Nº de páginas: 2
Documentos
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