Study of surface structure and dextran incorporation into sucrose crystals using atomic force microscopy

• Tipo: Artigo em Revista Científica Internacional
• Data: 2012

Autores

Issam Khaddour (Autor) Outra; Fernando Rocha (Autor) FEUP; Luis Bento (Autor) Outra

Revista

Título: Sugar Industry-Zuckerindustrie

Vol. 137 Nº 62

Páginas: 227-229

ISSN: 0344-8657

Editora: VERLAG DR ALBERT BARTENS

Indexação

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Classificação Científica

FOS: Ciências agrárias > Outras ciências agrárias

Projetos Associados

PEst-C/EQB/UI0511/2011 - PROJECTO ESTRATÉGICO - UI 511 - 2011-2012

Outras Informações

ID Authenticus: P-002-B33

Abstract (EN): Atomic force microscopy (AFM) represents a useful tool in providing information on the mechanism of growth of sucrose and the molecular roughness of the crystal surface with changes in the supersaturation level. Moreover, a better understanding of the effect of dextran as a macromolecular nonsugar on sucrose crystal growth is obtained. Step height, and the radius of the 2D critical nucleus were determined using the AFM technique.

Idioma: Inglês

Tipo (Avaliação Docente): Científica

Nº de páginas: 3