O Teste de Cartas de Circuito Impresso com BST: Arquitectura de um Controlador Residente e Geração Automática do Programa de Teste

• Type: Thesis
• Date: 1992

Authors

José Martins Ferreira (Author) FEUP

Scientific classification

CORDIS: Technological sciences > Engineering > Electrical engineering

FOS: Engineering and technology > Electrical engineering, Electronic engineering, Information engineering

Other information

Resumo (PT): Os níveis de integração e complexidade actualmente proporcionados pela tecnologia microelectrónica, e as novas possibilidades disponíveis para o encapsulamento e montagem de circuitos integrados (CIs), criam grandes dificuldades às técnicas de teste tradicionalmente empregues para cartas de circuito impresso (CCIs). A existência de uma infraestrutura de teste residente na própria CCI a testar constitui uma solução possível, e que veio a ter por expressão principal a tecnologia Boundary Scan Test (BST), aprovada pelo IEEE (norma 1149.1) em 1990. A infraestrutura BST presente numa CCI cria por sua vez condições para o uso de um controlador dedicado, residente na CCI a testar, e cujo conjunto de instruções deverá implementar eficientemente as operações necessárias à realização do teste. A arquitectura deste controlador, e a geração automática do respectivo programa de teste, constituem o tema principal desta tese. A tese tem início com uma introdução ao teste de CCIs digitais, seguida pela apresentação dos conceitos principais da tecnologia BST. O teste de CCIs através da infraestrutura BST é então apresentado, e precede a discussão das questões principais relacionadas com a geração de vectores de teste para CCIs com BST, que inclui uma análise comparativa dos algoritmos destinados à detecção e diagnóstico de curto-circuitos entre ligações. Segue-se a introdução do tema principal da tese, com início por uma apresentação detalhada da arquitectura proposta para o controlador residente. A geração automática do programa de teste é então considerada, incluindo todos os passos necessários à geração do programa de teste final para o controlador. As características deste componente (fabricado em 1,5µ CMOS, com encapsulamento LCC de 68 pinos), e uma aplicação que inclui o programa de teste gerado automaticamente, são também apresentados.

Language: Portuguese

Type (Professor's evaluation): Scientific

No. of pages: 310