O teste de circuitos analógicos e mistos

• Type: Technical Report
• Date: 2001

Authors

José Machado da Silva (Author) FEUP

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Resumo (PT): Principia-se com a identificação das diferentes operações de teste por que passam os circuitos electrónicos ao longo do seu ciclo de vida, e a apresentação de conceitos e termos fundamentais neste domínio. De seguida faz-se uma apresentação das motivações que justificam a crescente utilização de circuitos analógicos e mistos, e identificam-se as principais razões que fazem com que o teste analógico apresente maiores dificuldades de realização em comparação com o teste digital. Novas abordagens de teste tendentes a ultrapassar essas dificuldades têm sido desenvolvidas. Entre elas encontra-se o recurso a técnicas de processamento digital de sinal, como forma de simplificar e tornar mais versáteis os equipamentos de teste, e o desenvolvimento de novas metodologias de projecto para a testabilidade, que são apresentadas seguindo um modelo que caracteriza o grau de implantação das funções de teste no próprio circuito a testar. Neste âmbito identifica-se um conjunto de atributos que permitem qualificar uma metodologia de projecto para a testabilidade. Finalmente, merecem destaque a técnica de teste por observação da corrente de alimentação e o recurso à infra-estrutura de teste misto normalizada IEEE 1149.4.

Language: Portuguese

Type (Professor's evaluation): Scientific

Reference: Monografia da cadeira de VLSI Analógico

No. of pages: 121