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Dynamically rotate and free for test: the aath for FPGA concurrent test

Título
Dynamically rotate and free for test: the aath for FPGA concurrent test
Tipo
Artigo em Livro de Atas de Conferência Internacional
Ano
2001
Autores
Manuel Gericota
(Autor)
Outra
A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. Sem AUTHENTICUS Sem ORCID
Gustavo Costa Alves
(Autor)
Outra
A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. A pessoa não pertence à instituição. Sem AUTHENTICUS Sem ORCID
José Martins Ferreira
(Autor)
FEUP
Ata de Conferência Internacional
Páginas: 180-185
2nd Latin America Test Workshop LATW¿01
Cancun, México, 11 a 14 de Fevereiro de 2001
Classificação Científica
FOS: Ciências da engenharia e tecnologias > Engenharia electrotécnica, electrónica e informática
CORDIS: Ciências Tecnológicas > Engenharia > Engenharia electrotécnica
Outras Informações
Abstract (EN): Dynamically reconfigurable systems have benefited from a new class of FPGAs, recently introduced into the market, that enables partial and dynamic reconfiguration. While enabling concurrent reconfiguration without disturbing the system operation, this technology also raises a new test challenge: to assure a continuously fault-free operation, independently of the circuit present after many reconfiguration processes. A new structural concurrent test method, recently proposed by the authors and based on the principle of replicating and freeing the resources to be tested, raised several questions, one of them being: what strategy to follow in the process of dynamically replicating and freeing those resources? This paper presents a strategy to free the resources to be tested and the results of a series of simulation experiments made with the objective of finding the best methodology to achieve it.
Idioma: Inglês
Tipo (Avaliação Docente): Científica
Nº de páginas: 6
Tipo de Licença: Clique para ver a licença CC BY-NC
Documentos
Nome do Ficheiro Descrição Tamanho
46.C-LATW_2001_52088 Dynamically Rotate And Free for Test: The Path for FPGA Concurrent Test 442.14 KB
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